•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Triple bottom line strategy for sustainable steel industry

نویسنده:
Samajdar, Chinmoy
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/CoolChips.2014.6842950
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1068628
کلیدواژه(گان): DRAM chips,n error correction,n integrated circuit testing,n low-power electronics,n three-dimensional integrated circuits,n 3D memory cube,n 3D stacked DRAM memory,n ECP,n RT detection mechanism,n bandwidth consumption,n data layout,n data-pattern dependence characteristics,n error correction pointer,n logic base,n loop-based control algorithm,n low power DRAM refresh control scheme,n memory energy,n memory scrubbers,n refresh interval
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Triple bottom line strategy for sustainable steel industry

Show full item record

contributor authorSamajdar, Chinmoy
date accessioned2020-03-12T22:01:13Z
date available2020-03-12T22:01:13Z
date issued2014
identifier other6970964.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1068628
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleTriple bottom line strategy for sustainable steel industry
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8203752
subject keywordsDRAM chips
subject keywordsn error correction
subject keywordsn integrated circuit testing
subject keywordsn low-power electronics
subject keywordsn three-dimensional integrated circuits
subject keywordsn 3D memory cube
subject keywordsn 3D stacked DRAM memory
subject keywordsn ECP
subject keywordsn RT detection mechanism
subject keywordsn bandwidth consumption
subject keywordsn data layout
subject keywordsn data-pattern dependence characteristics
subject keywordsn error correction pointer
subject keywordsn logic base
subject keywordsn loop-based control algorithm
subject keywordsn low power DRAM refresh control scheme
subject keywordsn memory energy
subject keywordsn memory scrubbers
subject keywordsn refresh interval
identifier doi10.1109/CoolChips.2014.6842950
journal titleusiness and Information Management (ICBIM), 2014 2nd International Conference on
filesize414103
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace