•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

On Frequency Offset Estimation Using the iNET Preamble in Frequency Selective Fading

نویسنده:
Rice, Michael
,
Perrins, Erik
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/EuroSimE.2014.6813834
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1059186
کلیدواژه(گان): CMOS integrated circuits,n aluminium,n finite element analysis,n integrated circuit reliability,n internal stresses,n microsensors,n optimisation,n protective coatings,n titanium compounds,n Al-TiN,n CMOS-MEMS,n FEM,n Stoney formula,n bi-layered structure,n bilayered aluminum structure,n comb-shaped structure,n complementary metal oxide semiconductor,n cross-shaped sensor,n cross-shaped structure,n finite element method,n full-wafer coa
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    On Frequency Offset Estimation Using the iNET Preamble in Frequency Selective Fading

Show full item record

contributor authorRice, Michael
contributor authorPerrins, Erik
date accessioned2020-03-12T21:45:10Z
date available2020-03-12T21:45:10Z
date issued2014
identifier other6956844.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1059186
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleOn Frequency Offset Estimation Using the iNET Preamble in Frequency Selective Fading
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8190706
subject keywordsCMOS integrated circuits
subject keywordsn aluminium
subject keywordsn finite element analysis
subject keywordsn integrated circuit reliability
subject keywordsn internal stresses
subject keywordsn microsensors
subject keywordsn optimisation
subject keywordsn protective coatings
subject keywordsn titanium compounds
subject keywordsn Al-TiN
subject keywordsn CMOS-MEMS
subject keywordsn FEM
subject keywordsn Stoney formula
subject keywordsn bi-layered structure
subject keywordsn bilayered aluminum structure
subject keywordsn comb-shaped structure
subject keywordsn complementary metal oxide semiconductor
subject keywordsn cross-shaped sensor
subject keywordsn cross-shaped structure
subject keywordsn finite element method
subject keywordsn full-wafer coa
identifier doi10.1109/EuroSimE.2014.6813834
journal titleilitary Communications Conference (MILCOM), 2014 IEEE
filesize460103
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace