•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
Search 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Search
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Search
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Search

Show Advanced FiltersHide Advanced Filters

Filters

Use filters to refine the search results.

نمایش تعداد 1-4 از 4

    • Relevance
    • Title Asc
    • Title Desc
    • سال صعودی
    • سال نزولی
    • 5
    • 10
    • 20
    • 40
    • 60
    • 80
    • 100
  • خروجی
    • CSV
    • RIS
    • Sort Options:
    • Relevance
    • Title Asc
    • Title Desc
    • Issue Date Asc
    • Issue Date Desc
    • Results Per Page:
    • 5
    • 10
    • 20
    • 40
    • 60
    • 80
    • 100

    [IEEE 2009 10th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS - Aachen, Germany (2009.03.18-2009.03.20)] 2009 10th International Conference on Ultimate Integration of Silicon - NBTI tolerant 4T double-gate SRAM design 

    نوع: Journal Paper
    نویسنده : Ebrahimi, Behzad; Afzali-Kusha, Ali
    سال: 2009
    Request PDF

    Double-Edge triggered Level Converter Flip-Flop with Feedback 

    نوع: Conference Paper
    نویسنده : Seyedi, Azam-Sadat; Afzali-Kusha, Ali
    Request PDF

    Data Encoding Techniques for Reducing Energy Consumption in Network-on-Chip 

    نوع: Journal Paper
    نویسنده : Jafarzadeh, Nima; Palesi, Maurizio; Khademzadeh, A.; Afzali-Kusha, Ali
    ناشر: IEEE
    سال: 2014

    [IEEE 2012 IEEE 30th International Conference on Computer Design (ICCD 2012) - Montreal, QC, Canada (2012.09.30-2012.10.3)] 2012 IEEE 30th International Conference on Computer Design (ICCD) - An efficient reliability simulation flow for evaluating the hot carrier injection effect in CMOS VLSI circuits 

    نوع: Journal Paper
    نویسنده : Kamal, Mehdi; Xie, Qing; Pedram, Massoud; Afzali-Kusha, Ali; Safari, Saeed
    سال: 2012
    Request PDF

    نویسنده

    ناشر

    سال

    کلیدواژه

    ... View More

    نوع

    زبان

    نوع محتوا

    عنوان ناشر

    • درباره ما
    نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
    DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace